?Politrack® 是用于固體核徑跡蝕刻探測(cè)器的全自動(dòng)掃描測(cè)量系統(tǒng)。
?Politrack可以讀取 CR-39 和 LR115 探測(cè)器。主要應(yīng)用于各類研究，氡和中子的劑量測(cè)定。
?Politrack提供了多種軟件包，適用于CR-39 、LR115 、CR-39快中子和熱中子以及LET光譜測(cè)量。
?掃描面積可達(dá) 205x205 mm2，用戶可定義探測(cè)器尺寸和讀取面積。
?通過(guò) OCR 讀取探測(cè)器ID。
?在掃描開始時(shí)執(zhí)行的自動(dòng)對(duì)焦例程可確保在整個(gè)讀取過(guò)程中使圖像聚焦探測(cè)器表面。
?形態(tài)分析會(huì)將對(duì)來(lái)自不同粒子或具有不同能量的徑跡蝕刻進(jìn)行分類，并去除本底噪聲。
?形態(tài)參數(shù)中具有濾鏡功能，用戶可以看到應(yīng)用濾鏡后會(huì)發(fā)生或出現(xiàn)什么狀態(tài)，并且以此進(jìn)行修改參數(shù)范圍或強(qiáng)度。軟件可對(duì)與徑跡密度成正比的徑跡重疊進(jìn)行校正。
?輸出數(shù)據(jù)文件包含所有探測(cè)器相關(guān)數(shù)據(jù)，用戶可以自定義輸出模板和格式（與Excel兼容）。
Politrack徑跡蝕刻探測(cè)測(cè)量?jī)x特點(diǎn)：
?任何尺寸的CR-39和LR115探測(cè)器均可讀數(shù)
?精密的徑跡蝕刻形態(tài)分析
?CR-39探測(cè)器老化校正
?LR115殘余厚度校正
?重疊校正
?算法清晰明確，不存在數(shù)據(jù)黑箱
?操作員可設(shè)置和修改所有參數(shù)
Politrack徑跡蝕刻探測(cè)測(cè)量?jī)x應(yīng)用領(lǐng)域：
?各類研究工作
?劑量測(cè)定服務(wù)
?氡測(cè)量
?快中子
?熱中子
?LET光譜
Politrack徑跡蝕刻探測(cè)測(cè)量?jī)x操作方法：
?用戶可以定義探測(cè)器的類型和尺寸，讀取區(qū)域以及所有掃描參數(shù)。形態(tài)分析可以區(qū)分來(lái)自不同粒子和具有不同能量的徑跡，去除本底干擾。
?所有算法清晰明確，用戶可以通過(guò)功能強(qiáng)大的圖形工具輕松修改和/或應(yīng)用形態(tài)分析濾鏡，并實(shí)時(shí)可視化結(jié)果。若需更改參數(shù)，可直接使用二次計(jì)算工具，而無(wú)需重新讀取探測(cè)器。輸出文件包含所有探測(cè)器相關(guān)掃描數(shù)據(jù)，用戶可自定義輸出模板和格式。
| 蜂窩抗振面包板 | 550x750x40毫米 |
| 三軸微步電機(jī)控制板 | |
| 顯微鏡： | 4x +針孔（rad）; 20x +冷凝器（中子） |
| 掃描架 | 200x200 mm |
| Z軸精密線性平臺(tái) | 重復(fù)精度+/- 0.5微米 |
| 相機(jī) | 1/3英寸CCD USB3 1280x960 b / n，30幀/秒 |
| XY電動(dòng)掃描臺(tái) | 205x205mm，90mm / sec，分辨率<1微米 |
| LED系統(tǒng) | 用于樣品背光 |
| 軟件包： | CR-39 ,、 LR115 ,、 CR-39中子/ LET光譜儀 |
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