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產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	加工定制	否

1、整體概述

局部放電檢測(cè)分析儀是一款多功能、多用途的便攜式設(shè)備，適用于變壓器、GIS、電纜、開關(guān)柜等設(shè)備的局部放電帶電檢測(cè)。該局放檢測(cè)儀還附帶了局放采集分析軟件，具有操作靈活的用戶界面，方便您準(zhǔn)確判斷局部放電特征。

2、主要特性

超寬頻段的信號(hào)捕獲能力
捕獲不同物理形式的局部放電信號(hào)，既有局放電流脈沖信號(hào)，也有局放的電磁輻射脈沖信號(hào)和超聲波振動(dòng)信號(hào)，通過不同類型傳感器的選擇，可以覆蓋從20kHz～1.5GHz的超寬頻帶。同時(shí)還可測(cè)量外加電壓的交流信號(hào)。

綜合運(yùn)用多種PD檢測(cè)技術(shù)
多種方法檢測(cè)局部放電，包括脈沖電流法（IEC60270標(biāo)準(zhǔn)），和超高頻方法，以及非電量的超聲波方法。通過用幾種方法組合選擇，可以更為確切地判斷PD活動(dòng)狀態(tài)，及區(qū)分現(xiàn)場(chǎng)干擾。

可應(yīng)用于各種現(xiàn)場(chǎng)電力設(shè)備
變壓器局放的檢測(cè)同時(shí)使用上述三種技術(shù)。電纜局放一般采取脈沖電流法檢測(cè)。GIS、開關(guān)柜局放采用超高頻方法較為常見，也可用脈沖電流法或超聲法。此外，亦可用于發(fā)電機(jī)和其它電力設(shè)備的局部放電測(cè)量。

可記錄不同測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)的參數(shù)配置方案
現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行局部放電測(cè)試，對(duì)局放信號(hào)的調(diào)理參數(shù)設(shè)置需要一定經(jīng)驗(yàn)，該局放檢測(cè)儀已經(jīng)預(yù)置了若干適應(yīng)典型電力設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)局放檢測(cè)的參數(shù)配置方案，您可以一鍵導(dǎo)入，也可將您實(shí)測(cè)的*配置方案保存以便下次使用。

專業(yè)的局放分析軟件
針對(duì)局部放電信號(hào)特性可運(yùn)用脈沖序列分析、頻域譜分析、小波分析、時(shí)頻圖、等不同的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)，幫助您獲得真實(shí)有效的局部放電信息。此外，局放模式識(shí)別算法以局部放電相位譜圖為基礎(chǔ)進(jìn)行多元統(tǒng)計(jì)分布可以對(duì)內(nèi)部放電、電暈放電、懸浮電位放電等較為典型的放電類型做出分類識(shí)別。

局部放電缺陷的定位功能

對(duì)變壓器、GIS等腔體結(jié)構(gòu)的定位實(shí)現(xiàn)以平面相交的空間定位算法為數(shù)學(xué)模型，電纜故障定位采用時(shí)域反射技術(shù)實(shí)現(xiàn)。

3、局部放電檢測(cè)分析儀技術(shù)指標(biāo)

1信號(hào)輸入通道性能：四個(gè)高速輸入通道（模擬帶寬170kHz～1.5GHz，數(shù)字采樣率5GS/s。），和八個(gè)低速輸入通道（模擬帶寬DC～1.3MHz，數(shù)字采樣率3MS/s。）。

2超寬頻段：脈沖電流PD信號(hào)100kHz～50MHz，超高頻PD信號(hào)300MHz～1.5GHz，超聲波PD信號(hào)20kHz～400kHz。

3局放脈沖的分辨：雙脈沖分辨率＜1µs，脈沖重復(fù)頻率1MHz。

4局放信號(hào)調(diào)理參數(shù)：增益在－6dB～＋54dB范圍內(nèi)可調(diào)，步進(jìn)6dB；超高頻寬帶限制有七個(gè)選擇檔位：20MHz、100MHz、200MHz、350MHz、650MHz、750MHz和全通帶。脈沖電流和超聲波PD信號(hào)均有可編程濾波器設(shè)計(jì)。

5電源供電：交流供電電壓200V～240V（47～63Hz）寬電壓范圍。

6操控方式：本地，遠(yuǎn)程網(wǎng)絡(luò)（LAN、WIFI、光纖）。

注意事項(xiàng)：

1. 在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。

2.對(duì)于連接線應(yīng)避免將*暴露在外，防止*電暈放電，尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場(chǎng)強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一般情況下，在試驗(yàn)過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測(cè)量值。