N5納米粒度分析儀是采用動(dòng)態(tài)激光法測(cè)量超細(xì)顆粒的粒度分析儀，激光法測(cè)顆粒度，是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法，即利用運(yùn)動(dòng)著的顆粒所產(chǎn)生的動(dòng)態(tài) 的散射光，通過(guò)光子相關(guān)光譜分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析納米顆粒粒度，其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高
詳細(xì)介紹
納米粒度分析儀儀器介紹
N5是采用動(dòng)態(tài)激光法測(cè)量超細(xì)顆粒的粒度分析儀，激光法測(cè)顆粒度，是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法，即利用運(yùn)動(dòng)著的顆粒所產(chǎn)生的動(dòng)態(tài) 的散射光，通過(guò)光子相關(guān)光譜分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析納米顆粒粒度，其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高
納米粒度分析儀技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍： 3-3,000nm，可測(cè)范圍：1-10000nm
2.測(cè)量時(shí)間：30-180秒
3.重現(xiàn)性： 優(yōu)于3%CV
4.可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個(gè)峰
5.精度： 2-5%
納米粒度分析儀主要特點(diǎn)
1.是同類(lèi)產(chǎn)品中采用六個(gè)角度(在0-900C角度范圍)檢測(cè)的儀器
2.的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖，快速判別樣品類(lèi)型
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