一、可程式高低溫試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、及其循環(huán)變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
二、可程式高低溫試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱的主要技術(shù)特點(diǎn)
◆ 同容積在承受較大存放區(qū)域和負(fù)載發(fā)熱量
◆ 采用美國新型PWM冷媒控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行
◆ 防止測試品不結(jié)露控制條件
◆ 通信配置RS232接口和SB儲存下載功能
◆ 機(jī)臺多重報(bào)警監(jiān)測，配置無線遠(yuǎn)程報(bào)警功能
◆ 安全的水路系統(tǒng)和再生用水環(huán)循系統(tǒng)
◆ 濕度效應(yīng)可以達(dá)到15℃/5%RH效能，除濕速度快
◆ 防止靜電降耗能力強(qiáng)，達(dá)到同行業(yè)中性能狀態(tài)
三、可程式高低溫試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱的主要技術(shù)規(guī)格；
產(chǎn)品型號 | LK-80T | LK-150T | LK-8225T | LK-408T | LK-800T |
工作室尺寸(mm) | 400×400×500 | 500×500×600 | 500×600×750 | 600×800×850 | 1000×800×1000 |
溫度范圍（℃） | F:-20℃、L:-40℃、T:-60℃、G:-70℃~150℃ | ||||
溫度波動度（℃） | &plsmn;0.5℃ | ||||
溫度均勻度（℃） | ≤&plsmn;2℃ | ||||
升溫速率（℃） | 3℃/min (空載時(shí)) | ||||
降溫速率（℃） | 0.7~1℃/min (空載時(shí)) | ||||
溫度控制系統(tǒng) | 進(jìn)口液晶數(shù)顯控制器 | ||||
加熱系統(tǒng) | 鎳鉻合金絲型高效加熱器、L形不銹鋼電鍍加熱器 | ||||
制冷系統(tǒng) | 1壓縮機(jī):法國泰康牌全封閉式壓縮機(jī) 2冷媒:環(huán)保冷媒R404A，臭氧層的破壞率為0 (ODP = 0.00) 3冷凝器:鰭片式附散熱馬達(dá) 4蒸發(fā)器:鰭片式多段式自動負(fù)載容量調(diào)整 5其它附件:干燥劑，修理閥，日本鷺宮電磁閥 6膨脹系統(tǒng):容量自動控制節(jié)流降壓之冷凍系統(tǒng) | ||||
內(nèi)膽材質(zhì) | ＳＳ＃３０４不銹鋼板 | ||||
外殼材質(zhì) | 噴塑鍍鋅彩色鋼板 | ||||
保溫材質(zhì) | 超細(xì)玻璃纖維保溫棉 | ||||
通訊功能 | 配備標(biāo)準(zhǔn)的RS232C/RS485通訊接口，長傳輸距離1.2Km，通訊速度快可達(dá)9600bps，可實(shí)現(xiàn)與計(jì)算機(jī)連接遠(yuǎn)程監(jiān)控，操作方便。 | ||||
附屬功能 | 故障報(bào)警及原因提示功能，故障名稱可更改，溫度上限保護(hù)功能，定時(shí)及預(yù)約（自動停止及自動啟動功能），多組（多6組）P I D單獨(dú)分段控溫，曲線顯示及保存功能顯示PV曲線0-8天。溫度可以設(shè)定按線性運(yùn)行（即可設(shè)定每小時(shí)升/降溫速度） | ||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 1.電源線4.0 mm&sp2;x5蕊，低阻抗橡膠電纜線3m長1條 2.設(shè)備電氣原理圖一份 3.不銹鋼SS #304方型沖孔鋼板置物架2片 4.不銹鋼可調(diào)整間距置物架軌道2組 5.節(jié)能照明燈1支 6.機(jī)體左側(cè)ψ50mm測試孔1個附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只。 7.標(biāo)準(zhǔn)測試用氣象紗布1卷 8.保險(xiǎn)絲一套（易損件） 9.操作說明書一套 | ||||
滿足標(biāo)準(zhǔn) | GB 10589-2008 《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB 10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》 GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》 GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變試驗(yàn)方法》 GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》 GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》 GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》 GB2423.3－2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》; GB2423.4－93試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》
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